二手 PHILIPS / FEI Tecnai F20 #9304082 待售

PHILIPS/FEI Tecnai F20是为工业和学术用途而设计的先进扫描电子显微镜（SEM）。它提供了高水平的性能和多功能性，能够对表面特征、粒子和纳米尺度的样品进行成像。F20还配备了广泛的分析能力，包括元素微观分析、反向散射分析和X射线光谱，使其成为微电子学、半导体器件制造、材料科学研究、微结构分析和药物发现的理想工具。F20的特点是有一个环境室，该室的最高温度为10-7 torr，温度为-50°C至+150°C，使其能够处理各种样品类型和条件，如反应性样品、炸药和低温样品。它的EDX探测器允许使用高达128K通道的快速X射线光谱，而一个电动级使得三个维度的导航成为可能。F20配备了极高稳定性水平的200kV场发射电子枪，提供了10 pA至500A的电流范围和优越的信噪比。它还具有深度自动扫描电子显微镜，能够进行各种样品运行。这包括光学光刻和晶圆分析、轮廓测量和可视化、自动倾斜和翻转以及高分辨率成像。除了成像功能外,F20还提供一系列分析选项。该系统结合了EDX和WDX设备，能够进行矿物学、元素、固态和生物分子分析。利用Ever架设的真空传输装置，该机器还能够将样品引入真空环境。总体而言,FEI Tecnai F 20是一种高级成像和分析工具,可提供强大的性能和多重分析功能。它可以为工业和研究环境中的多种应用提供全面的解决方桉，包括微电子学、半导体器件制造、材料科学研究、微结构分析和药物发现。