二手 PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9195579 待售
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ID: 9195579
Transmission Electron Microscope (TEM)
Field Emission Gun (FEG)
High voltage: 300 kV
Super twin lens
Emitter: Schottky
HRTEM (Spatial resolution: 0.18 nm)
STEM (Spatial resolution: 0.20 nm)
Convergent Beam Diffraction (CBM)
Single tilt specimen holder
Normal double tilt holder
Low background double tilt holder
Nanoindenter / STM Holder
Camera / Detectors:
High energy resolution X-ray SDD detector
CCD GATAN US4000 Ultrascan
Pixels: 4K x 4K
14-Bits
EFTEM GATAN GIF:
Energy resolution: 1.2 eV
EDX EDAX:
Collection angle: 0.1 srad
Energy resolution: 136 eV
HT-Tank 300kV FEG-EMC.
PHILIPS/FEI Tecnai F30扫描电子显微镜是一种功能强大的微观分析工具，供各学科的研究人员使用。该显微镜采用先进的电子光学系统，结合了多项创新，提供了最高的成像和表征性能。该系统的核心是一个场发射电子枪，它产生一个低能、高度聚焦的光束。这样可以实现最高的横向分辨率、卓越的景深和出色的线对对比度。柱设计力求最大限度地减少色差和球差,具有较大的聚焦深度和卓越的对比度传递函数（CTF）。此外，显微镜还配备了先进的InLens探测器。该探测器捕获电子而无需重新聚焦，并提供了更高的灵敏度和准确性。这使得它成为高放大成像和大面积分析的理想选择。FEI F30还配备了新设计的半导体探测器，可实现高度通用的成像。该探测器能够捕获低能电子，同时仍保持区分样品内不同元素的能力。它是分析薄膜的绝佳选择，因为它具有高速成像能力。此外，显微镜还可与多种探测器配合使用，如X射线探测器、电子反向散射探测器、高角度环形暗场探测器，进一步扩展其能力。这些技术有助于各种任务，如高分辨率元素分析和曲面重建。飞利浦TECNAI F 30还具有高加速电压和长工作距离。这种组合使得显微镜成为更高景深成像的绝佳选择，允许从样品中获得更大的清晰度。因此，F30是各种分析和成像应用的绝佳选择。
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