二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20 UT D214 #293607886 待售

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 UT D214是一种用于高级成像和表征应用的双束扫描电子显微镜（SEM）。这台多功能显微镜的设计目的是在学术、工业和材料研究行业内提供无与伦比的视觉分辨率和分析能力。FEI Tecnai G2 F20 UT D214利用了令人印象深刻的成像和分析技术集合,包括广阔的视野和集成的FIB/ESEM功能。高分辨率肖特基发射器和低温冷却的高通量电子源使得这种显微镜的先进扫描能力成为可能。这有助于在大视野内提供样品地形的高分辨率成像。放大倍率范围从5倍到2,000,000倍不等,可执行各种微观成像任务。此外,可变压力成像、可变压力断层扫描、3D X射线图像和大型样品室处理等高级成像功能也很容易获得。PHILIPS Tecnai G2 F20 UT D214集成的FIB/ESEM功能对于材料测试至关重要。它的DualBeam™技术允许以高分辨率对样品进行成像和交互式去除材料以进行纳米级分析。显微镜的DLAN电子束光刻技术还允许直接书写表面的材料图样和结构，使研究人员能够更有力地控制表征。Tecnai G2 F20 UT D214还提供了增强的分析能力，包括高级能量和波长色散光谱（EDS/WDS）。这允许用户进行元素分析并识别样本的各个阶段。元素可以很高的精确度和不同的浓度来识别。此外，仪器上的卫星探测器增加了无与伦比的精度水平，并提高了EDS和WDS的速度。总体而言，PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 UT D214是一种无与伦比的扫描电子显微镜，用于完成无数的成像和分析任务。其集成的DualBeam™和FIB/ESEM功能允许进行高级地形成像，而其能量/波长色散光谱则允许进行元素分析和识别。FEI Tecnai G2 F20 UT D214具有高分辨率扫描功能和强大的分析功能,是各种研究应用的通用选择。