二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 Twin #293604851 待售
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ID: 293604851
Transmission Electron Microscope (TEM)
STEM System for FEG
Scanned imaging technique
FISCHIONE INSTRUMENTS 3000 HAADF Detector: 300 kV
Upgraded BRUKER Quantax EDS 400 Silicon drift detector
Detector: 30 mm Window
PC
EDX Spectroscopy technique
Low-dose exposure technique and performance test
Xplore3D (Tomography except STEM tomo)
GATAN UltraScan 4000 UHS Pre-Gif CCD
With U-type coating for ultrasensitivity
Power: 300 kV
GATAN Quantum GIF 963 Energy filter
With CCD: 2000 x 2000
Energy filter embedding
EFTEM EELS Module
CCD Camera embedding
Accessory cabinet 33U, 19''
TEM Scripting
Free lens control
TEM Auto-adjust
TEM Auto-gun
LCD Monitor, 20"
Anti-contaminator
Nitrogen cooled with Be blades for TEM
JUN-AIR Compressor: 115 V, 50/60 Hz
GE Digital energy LP Uninterruptible Power Supply (UPS).
PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 Twin是一种最先进的扫描电子显微镜（SEM），它将极端成像分辨率与多种选项相结合，以简化SEM的使用。为了获得最大的成像分辨率，FEI Tecnai G2 F30 Twin配备了透镜内柱内反向散射电子（BSE）检测器、Everhart-Thornley点检测器、四重二次电子（SE）检测器、中等能量反向散射（MEB）检测器，以及比常规图像定位方法显示更快的顶端定位检测器。PHILIPS Tecnai G2 F30 Twin还配备了一个多用途样品架，可携带多达8个样品，一个非磁性移液器，一个可自动检测样品参数的PixelPro样品定向系统，一个双倾斜支架，以及一系列附件，以便灵活使用。此外，采用这种SEM还可以实现永久性的冷冻转移技术。Tecnai G2 F30 Twin还附带集成的自动化图像分析软件。该软件可用于分析复杂的SEM图像，并具有图像数学、图像操作、手动和自动晶粒计数以及模式识别算法等特点。此外,PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 Twin配备了可调源发生器,使用户能够调整和监视光束参数,例如加速电压和电流。这款可调源生成器还具有创新的控制算法，允许用户轻松调整次毫秒的时间曝光，以捕捉通常会太快无法辨别的瞬态事件。FEI Tecnai G2 F30 Twin是当今市场上最强大的SEM之一。凭借其高度先进的技术和集成的自动化解决方桉,G2 F30 Twin提供了令人难以置信的成像质量、粒子分析功能、使用灵活性和自动化图像分析软件。它是任何实验室寻找可靠和直观的SEM解决方桉的完美工具。
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