二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 Twin #9376693 待售
看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。
单击可缩放
已售出
ID: 9376693
Transmission Electron Microscope (TEM)
STEM System for FEG
Scanned imaging technique
FISCHIONE INSTRUMENTS 3000 HAADF Detector: 300 kV
Upgraded BRUKER Quantax EDS 400 Silicon drift detector
Detector: 30 mm Window
PC
EDX Spectroscopy technique
Low-dose exposure technique and performance test
Xplore3D (Tomography except STEM tomo)
GATAN UltraScan 4000 UHS Pre-Gif CCD
With U-type coating for ultrasensitivity
Power: 300 kV
GATAN Quantum GIF 963 Energy filter
With CCD: 2000 x 2000
Energy filter embedding
EFTEM EELS Module
CCD Camera embedding
Accessory cabinet 33U, 19''
TEM Scripting
Free lens control
TEM Auto-adjust
TEM Auto-gun
LCD Monitor, 20"
Anti-contaminator
Nitrogen cooled with Be blades for TEM
JUN-AIR Compressor: 115 V, 50/60 Hz
GE Digital energy LP Uninterruptible Power Supply (UPS).
PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 Twin是一种高性能场发射扫描电子显微镜（FE-SEM），用于研究和工业领域的纳米级成像应用。它拥有先进的现场排放源，可为用户提供高吞吐量和短周期时间，使其成为同级中功能最强大的仪器之一。G2 F30具有0.7nm的高分辨率和30.0毫米的工作距离,可提供从5 x到300000x的放大倍数。它为包括成像、粒度分析和成分分析在内的一系列应用提供了高、低真空模式。显微镜使用大量的探测器来捕捉来自不同感兴趣区域的广泛特征。其渐进扫描技术使得能够用低成本的数码摄像机获取高分辨率图像。该系统配备了多种自动化图像处理功能，如MEBES层生产、数字分析、图像缝制等。G2 F30具有完全集成的倾斜/旋转级,允许以任何倾斜或旋转角度精确定位样品。该仪器包括一个用于数据准备和呈现的自动化软件包，以及一系列可以根据用户特定需求定制的硬件功能。G2 F30提供了高水平的扩展可用性,其直观的用户界面简化了操作和自动示例识别。其扫描和成像模式的范围为用户提供卓越的成像质量和控制。这种显微镜还提供先进的光束能量控制系统和创新的软件包，能够完全控制样品制备过程。这使得G2 F30成为纳米级成像和研究的强大工具。
还没有评论