二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 #293778924 待售
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ID: 293778924
Transmission Electron Microscope (TEM)
Source: FEG, 300 kV
TEM and STEM alignments at 300 kV
LORENTZ Lens
STEM detectors: DPC detectors, including all electronics and SW for alignments and acquisitions
Gatan Tridiem EELS spectrometer
Gatan UltraScan 1000XP
BRUKER EDX Side-entry detector system
Single-tilt holder
Double-tilt holder.
PHILIPS/FEI Tecnai F30是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于在高度可靠、用户友好的仪器中提供无与伦比的性能和多功能性。适合广泛的科学和工业应用，融合了最先进的技术。FEI F30利用20kV、高分辨率LaB6野外发射枪（FEG）源生成其高分辨率、低对比度图像。能量色散X射线（EDX）微观分析能力允许对样品进行快速准确的元素表征。飞利浦TECNAI F 30配备了工业标准的双子座II电子柱和超低真空（ULV）变样系统。它还配备了一个较小的30 µm火炮定位器，能够在探测小到30 µm的特征时实现新的精度水平。飞利浦Tecnai F30的高级软件套件包括用于快速图像采集、高级图像处理和数据分析的内置自动化工具。这增强了FEI TECNAI F 30进行高级材料调查的能力。对于样本观测，Tecnai F30采用了一个18英寸的Elmuirview单色显示器。此显示器提供出色的图像清晰度和对比度,并且能够显示高达1,000,000倍的放大倍数。TECNAI F 30是为数不多的具有10nm精度EDX/X射线微分析系统的SEM之一。该系统在检测和识别样品上的化学结构方面非常有效，需要最少的光束时间和能量。PHILIPS F30 SEM是寻求强大、高性能、多功能性卓越的仪器的用户的理想选择。它具有高分辨率的图像和广泛的功能,使其成为研究人员和行业的宝贵工具。其复杂的自动化和易于使用的软件通过减少样品处理时间和提高效率,大大节省了时间和成本。
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