二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 Spirit Twin #293600943 待售

PHILIPS/FEI Tecnai G2 Spirit双扫描电子显微镜（SEM）是一种先进的成像设备，旨在获得详细的微观结构分析。它提供高分辨率和对比度成像以及自动图像采集和图像处理功能。该系统非常适合广泛的应用，如半导体故障分析、纳米结构分析、材料科学研究和材料工程。FEI Tecnai G2 Spirit Twin以配备野战发射枪（FEG）的超高真空室为特色。该单元产生高度受控和可靠的电子束，能够获得分辨率高达1纳米的图像。FEG电子束允许极高的电流密度和放大倍数达到500,000x。SEM能够在二次和反向散射电子（BSE）模式下成像样品以及高分辨率Topografiner或3D断层扫描成像。自动图像采集系统可以对任何类型的样品进行快速、准确的成像。Image Explorer控制和自动化软件允许用户同时轻松浏览多个图像,同时提供功能强大的自动化分析方法。飞利浦Tecnai G2 Spirit Twin有一个样本级，样本面积大，倾斜范围为+/-70°，允许任何方向成像。这台机器有一个全自动的SEM准备站，可用于样品调理。Tecnai G2 Spirit Twin工具具有先进的数字成像功能,包括对比度和强度控制,可同时测量扫描图像的亮度和颜色。资产的快速处理速度以最小的延迟保证了高帧速率和交互功能。高级交互式图像分析工具包括EDS/EDX、3D-XKR和3D-XRA。总体而言,PHILIPS/FEI Tecnai G2 Spirit Twin是一款功能强大、用途广泛且易于使用的扫描电子显微镜,旨在方便进行微观结构分析。该模型具有高分辨率成像、快速的图像采集速度和一系列的图像分析工具,非常适合广泛的应用。