二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 TF20 #9361086 待售
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已售出
ID: 9361086
优质的: 2004
Transmission Electron Microscope (TEM)
With STEM mode
Voltage range: 40 to 200 kV
Bright field / Dark field
Secondary electron detector for STEM mode
Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) detector
Chiller
FEG Microscope
Field emitter gun
Camera: CCD Orius
SC 1000 CCD
With A860 GIF 2000
Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS)
Energy Filtered TEM (EFTEM)
Nanometer Pattern Generating System (NPGS)
FEG Replaced
Point resolution: 0.27 nm
Line resolution: 0.144 nm
STEM Resolution: 1.0 nm
Information limit: 0.18 nm
Energy spread: 0.7 eV
Maximum alpha-tilt angle with double-tilt holder: ±50°
Maximum diffraction angle: ±10°
Camera length: 35-2300 mm
EDS Solid angle: 0.13 srad
Standalone PC
Operating system: Windows XP
Voltage range: 80 to 300 kV
Power supply: 200kV
2004 vintage.
PHILIPS/FEI Tecnai G2 TF20是一种高性能、场发射扫描电子显微镜（FESEM）。它设计用于材料科学、活细胞成像和纳米级成像。与其他FESEM相比,该设备具有卓越的分辨率和卓越的像差校正功能。高级"自动调谐"（Advanced Auto-Tune）功能可保持最佳梁条件,并确保工作会话长度的性能一致。G2 TF20配备高分辨率场发射枪（FEG）源，提供卓越的加速电压稳定性和优异的高分辨率成像性能。该系统具有X射线探测器对材料进行微分析的能力，也能够对生物样品进行原位成像。G2 TF20具有独特的完全集成单元,专为高精度样品观测而设计。倾斜放大多维结构照明（TM-MDIS）机为改进样品表征和观测提供了先进的成像解决方桉。它提供了3D-White LightTM、DigitalKöhlerTM和多维结构化照明的独特组合,提供了前所未有的3D信息级别。G2 TF20配备了30 nm分辨率的探测器工具,能够详细观察样品的最小特征。资产还提供高级成像技术,如SE-BF、SE-DF、SE-APRT、SE-LF和SE-BSE,以获取有关样品的3D信息。此外,G2 TF20还提供自动模式识别和特征分析功能,以有效地表征和量化表面特征和微观结构组件。此模型提供强大的自动化和易用性,可大幅减少用户时间并提高实验室工作效率。G2 TF20是研究人员和工程师的终极扫描电子显微镜，他们需要高分辨率成像和各种创新的分析工具来表征样品。
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