二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 #293792271 待售

PHILIPS/FEI Tecnai G2是一种最先进的扫描电子显微镜（SEM），设计用于常规和高级材料表征。它有一个场发射电子枪（FEG），提供1至140 pA范围内的极高束电流，允许更高的分辨率成像和更快的采集时间。G2包括一个用于查看和处理样品的大腔室。三轴级可以通过电机速度高达15毫米/秒、样品室倾斜± 60°的一系列运动来定位样品。空气轴承主轴允许样品的高精度旋转和倾斜。G2利用单色带电耦合器件（CCD）相机进行成像。标准相机的有效分辨率高达2560 x 1920像素,可提供样品表面的详细视图。加速度二次电子（SE）角检测器（AD）和反向散射电子（BE）检测器（BD）也分别可用于高对比度和单色模式的成像。G2配备了用于电流调制的肖特基场发射源（FES）。这样可以实现高分辨率成像和分析功能。使用FES，用户可以比传统的SEM更精确地在纳米级观察样品的微观结构。电流可以微调，允许精确的SEM成像以及能量色散X射线光谱（EDS）用于元素和化学分析。FEI Tecnai G2是高分辨率成像和精确元素量化的通用仪器。凭借其高功率场发射源、高分辨率探测器和大型采样室，为任何类型的材料表征提供了全面的可能性范围。