二手 PHILIPS / FEI TF30 #293830548 待售

PHILIPS / FEI TF30
ID: 293830548
Transmission Electron Microscope (TEM).
PHILIPS/FEI TF30是一种扫描电子显微镜(SEM),利用二次散射和反向散射电子成像产生点亮样品表面的高分辨率图像。它能够提供工作距离可达5mm、视野可达~ 20mm的亚纳米分辨率图像。这种通用仪器设计用于故障分析、材料表征、半导体计量和生物成像等应用。FEI TF30采用先进的镜头内扫描技术,实现了最大景深的优化SEM图像。这样可确保以最小分散视差或像差伪影清晰显示点亮的样品。该设备还包括一个能够同时分析光和电子图像的样品分析系统(SAS),以及材料侧向力显微镜(LFM)、X射线元件映射(XRF)和光谱成像(SI)等先进分析技术。PHILIPS TF30还提供了一个可选的Autotune功能,可自动调谐和重新校准SEM的操作参数,包括加速电压、检测器响应能力和光束漂移补偿。这允许用户在示例分析应用程序之间快速切换,而无需手动调整这些设置。极强的TF30电机单元允许分析即使是最复杂的样品具有高度的准确性和可重复性。这台机器包括先进的减振功能,以减少振动引起的不稳定,以及高速二次电子探测器,以确保信号对噪声的最佳水平,即使是最具挑战性的SEM应用。PHILIPS/FEI TF30还配备了全方位的配件,包括电动舞台、冷冻和液氮舞台、无线控制以及图像缝合、动画渲染等各种通用应用。FEI TF30是一种先进的SEM工具,适用于各种应用程序,提供出色的分辨率和可重复性,以及自动调谐系统,以实现最高的效率。
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