二手 PHILIPS / FEI V600CE #293809777 待售
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ID: 293809777
优质的: 2010
Focused Ion Beam (FIB) system
Integrated Optical Microscope (IR OM)
NanoChemix configured gases:
XeF2
H2O
O2
Cl2
W
TMCTS
(2) Gas Injection Systems (GIS):
Probe Trim (PT)
Backside circuit
2010 vintage.
PHILIPS/FEI V600CE是一种能够产生纳米级分辨率的高分辨率扫描电子显微镜（SEM）。它配备了利用电子的先进成像能力，并允许对材料进行详细检查。FEI V600CE扫描电子显微镜能够用其柱内探测器、高分辨率肖特基场发射枪和强大的低噪声、超快信号放大器产生高分辨率成像。肖特基场发射枪提供了停留时间短的高压电子，并允许以高速成像，电子束的扩散最小化。柱内检测器自动检测、放大和数字化来自电子束与样品相互作用的信号，并提供屏幕上的图像。PHILIPS V600CE具有先进的能量色散X射线光谱，可以在纳米水平上进行元素分析。光子计数系统能够进行无损X射线分析，这有助于识别元素和/或材料。V600CE有一个自动取样器，可以连续使用。它具有高分辨率显微照片、高放大成像、3D地形图像采集、现场分辨率合成和微纹理成像等功能。PHILIPS/FEI V600CE非常适合需要纳米或亚纳米级分辨率的研究人员。它的成像能力可用于检查原生状态和纳米级的各种材料。它也是冶金分析的有用工具，因为其先进的能量色散X射线光谱法非常适合表征金属表面存在的元素。
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