二手 PHILIPS / FEI XL 20 #9243138 待售

PHILIPS/FEI XL 20是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于对材料表面、粒子和痕量分析、形态和元素分析进行成像和分析。它有一个野外发射枪（FEG），提高其电子束的性能和精度，使其非常适合工业和材料表征的应用。该设备配有镜头内二次电子探测器，可进行详细的地形成像。它还配备了反向散射电子探测器（BSD）和灯丝模拟器，在成像方面具有更高的精度。该系统针对低真空操作进行了优化，提供了各种样本类型的访问和高分辨率分析。FEI XL 20可以在x-y方向上达到2 nm的分辨率，在z方向上达到4 nm的分辨率。它利用了205毫米的加速电压，意味着它可以在低能和高能两种模式下运行，使得它适合采样各种材料。该装置还有一个镜头内SE检测器，可提供对一系列样品类型的高灵敏度成像/分析以及各种工作电压。最后，该机具有柔性真空操作，使得样品能够在超高真空（UHV）或低真空环境下进行分析。这提供了一系列实验选择，从详细的显微镜和表面计量到粒子分析和光谱学。综上所述，PHILIPS XL20是一种多功能扫描电子显微镜，非常适合高分辨率成像、粒子和迹线分析、元素表征等应用。凭借其灵活的真空操作以及令人印象深刻的检测器和分析选项范围，它是广泛的工业和研究应用的绝佳选择。