二手 PHILIPS / FEI XL 20 #9260733 待售

ID: 9260733
优质的: 2000
Scanning Electron Microscope (SEM) Operating system: Windows 3.11 Microanalysis window damaged 2000 vintage.
PHILIPS/FEI XL 20是为广泛应用而设计的扫描电子显微镜(SEM)。它在SE模式下的最大分辨率为0.3nm,令人印象深刻的景深高达8000微米。FEI XL 20具有一个场发射源,可使低压成像最多30kV次,从而实现对较软和敏感样品的可视化。飞利浦XL20采用创新的1000x1000像素Everhart-Thornley二次电子探测器,能够产生高对比度的图像并进行深入的元素分析。XL20的样品加载是自动化的,用于样品的快速安装和交换.它有各种各样的样品持有者,包括小颗粒、颠簸和更长的结构。XL 20是一款多功能、高端的仪器。它可以配置为运行各种实验,应用范围从材料表征和故障分析到微观分析和纳米级成像。其低热膨胀真空室和蔡司UIS ME通用STEM镜头提供了卓越的成像能力。它还有一个独特的自动化接口,可用于即时在SEM和TEM模式之间切换,调整幅度最小。此外,它的高电流发射器允许更高功率的研究,不同的电流可用于操作。SEM还可以编程为执行多模式和扩展成像协议。此外,PHILIPS XL 20配备了提供卓越实时成像能力的数字图像处理器,允许用户快速放大和缩小样本,调整对比度和亮度水平,甚至重播录制的视频序列。最后,它带有触摸屏控件的大型显示器显示提供了直观的用户体验,以及高度可定制的用户界面的奢华。总体而言,PHILIPS/FEI XL20提供了功能和性能的完美结合,非常适合在多个工业和科学学科中执行成像和分析任务。
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