二手 PHILIPS / FEI XL 30 (ESEM) #9378140 待售

FEI XL30是一种扫描电子显微镜（SEM），提供纳米结构和纳米材料的高分辨率成像。该仪器配备了PHILIPS XL30场发射枪（FEG）和PHILIPS/FEI线性SE探测器，用于能量色散X射线分析（EDX）。与同类中的任何其他SEM相比,XL30能够获得最高质量的图像。高分辨率图像是由于FEG的低电子发射率和低热发射率。这些特性允许低剂量操作和更高的放大倍率产生低噪声的高对比度图像。此外,EDX系统使用户能够识别样本的元素组成。用户可以轻松获取各种放大倍数可达600,000倍的图像。可以从PC控制台更改工作距离、倾斜和对比度,而无需进行任何硬件调整。图像可以在亮度、反向散射等各种模式下获取。XL30中的车辆引导系统大大简化了采样阶段的操作和对准。抽样阶段有几个版本，涵盖了广泛的应用和抽样类型。该XL30具有一个独特的"转到"位置,该位置可自动将样本阶段引导到最近的位置。这大大减少了样本在X、Y和Z轴上的对齐时间。"Go To"功能还允许自动进行样本空间操作和遍历,以扫描样本的广阔区域或查找特定的兴趣点。总体而言,FEI XL30是一款功能非常强大的SEM,具有出色的成像功能和广泛的扫描选项,适用于研究和工业应用。凭借其独特的"Go To"功能和扩展的样品阶段，XL30可以为用户提供纳米结构和纳米材料的高分辨率图像。