二手 PHILIPS / FEI XL 30 FEG #9184962 待售
网址复制成功！
ID: 9184962
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM)
FEG Schottky field emitter
Adjustable accelerating voltage: 200 V to 30 kV
Resolution:
2.0 nm at 30 kV
5.0 nm at 1 kV
Detectors:
Everhard-Thornley SE/BSE (ETD)
Solid-state BSED
Manually-controlled specimen stage
IGP and Diffusion pump vacuum system
Windows 3.11 PC upgraded to Windows 2000 PC
Polaroid camera
Analytical system:
EDAX Inc Phoenix/Genesis EDX system
Liquid N2 cooled Si(Li) EDX detector 10mm²
Resolution: Mn Kα - 129 eV
SATW Window for detection
EBSD system:
HAMAMATSU Video camera
HKL Channel 5 software package for EBSD data acquisition and analysis.
PHILIPS/FEI XL 30 FEG是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于产生样品表面的高分辨率图像。它利用聚焦的电子束生成样品图像，提供强大的分析能力。FEI XL 30 FEG使用场发射枪（FEG）产生电子束。FEG是SEM中使用的最先进的电子源，能够实现极高的放大倍率和优越的分辨率。光束以光栅模式扫描在样品上，图像通过检测从样品反向散射或发射的电子而形成。PHILIPS XL 30 FEG配备了一系列提高性能的功能，包括一个可容纳500 mm x 700 mm标本的大腔室、用于低真空的双LN/Ar枪、一个超高真空（UHV）腔室和一个自动化的样品转移系统。它还具有柱内能量滤波器，允许用户选择光束的能量以达到所需的对比度水平。XL 30 FEG还包括广泛的探测器，包括四种类型的SE（二次电子）探测器、两种类型的BS（反向散射电子）探测器和一种能量色散X射线光谱仪（EDS）。这一系列的检测系统提供了广泛的分析能力，例如元素分析和组成。PHILIPS/FEI XL 30 FEG使用基于Windows的GUI控制。这允许用户调整成像分辨率、真空水平和真空周期的定时等参数。显微镜还具有自动化自动化功能，如自动聚焦，使操作更简单。FEI XL 30 FEG是一个功能强大的SEM，旨在满足高级分析应用的需求。它具有出色的分辨率、自动化功能和广泛的分析功能,是研究各种材料的可靠且通用的工具。
还没有评论