二手 PHILIPS / FEI XL 30 SFEG #9255918 待售

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ID: 9255918
TMPI Sirion Scanning Electron Microscope (SEM) FEG and Turbo vacuum pump included Motorized stages: X, Y, Z, R Detectors: FEI / Type: FP 6848 FEI / Type: PW 6761 OXFORD EDS7231 Detector: Material: Silicon 133 eV Area: 10 mm² Heater: 5.1 V Substrate: 6.2 V Ramp: 1 fa Gas type: PT14+ Window type: ATW2 DBC Units: 1128-372 DBS Cable set: 1106-706 ~2000 vintage.
PHILIPS/FEI XL 30 SFEG是一种扫描电子显微镜(SEM),非常适合一般和研究应用。FEI XL 30S FEG采用高分辨率肖特基野外发射枪(FEG)进行精确详细的成像。它具有自动化的样品交换设备,便于快速、方便的样品处理和准备。该配置允许显着透镜成像和卓越的电子显微镜性能。飞利浦XL30 S-FEG利用先进的超高分辨率(UHR)电子光学系统和能量色散光谱(EDS)单元进行元素分析。该机器具有4k x 4k高性能探测器,可用于分析超小型对象。该工具提供精细的聚焦深度,大视野,以及纳米细节的优越成像。飞利浦XL 30 S-FEG具有广泛的标本测量能力。它使用户能够以纳米精度测量高分辨率图像、纳米颗粒和薄膜。该资产还提供能量过滤成像(EFI),以提高图像中特定特征的可见性。XL 30 SFEG利用真空室和涡轮分子泵浦模型维持低真空环境,以进行最佳成像和分析。这种低真空条件可防止伪影形成并确保高分辨率图像。显微镜有一个环境室选项,使用户能够在各种大气条件下测量样品。FEI XL 30 S-FEG由软件和图形用户界面(GUI)供电,允许用户控制显微镜操作和自动化例行任务。它提供了访问用于成像和分析的强大分析工具的权限。该软件非常用户友好、直截了当,让用户在没有太多先验知识的情况下快速执行高级功能。最后,飞利浦XL 30 SFEG是一种功能强大、用途广泛的扫描电子显微镜,非常适合一般和研究应用。它为用户提供了纳米级材料分析和薄膜检查等应用的出色成像能力。功能、附件、软件和用户友好界面的综合包使其成为各种电子成像和分析应用的绝佳仪器。
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