二手 PHILIPS / FEI XL 30 SFEG #9390243 待售

PHILIPS/FEI XL 30 SFEG是一种先进的扫描电子显微镜（SEM），能够成像各种样品。它利用低电压、高电压和可变压力扫描模式，使它能以前所未有的细节可视化范围广泛的样品。FEI XL 30S FEG是现代材料科学家最先进的显微镜。PHILIPS XL30 S-FEG基于低真空场发射电子枪（FEG）,增加了使用可变压力扫描的能力,有效加速电压范围为2-30kV。它具有高达1.25 nm的空间分辨率,并且对图像具有较短的脉冲持续时间,并具有最小的充电伪影。FEG电子源还允许电子流入，可以量身定制，以实现多种成像模式，如反向散射成像、二次电子成像和同时光谱成像。此外,PHILIPS XL 30S FEG还配备了ZWN Automation,该功能允许集成SEM、STEM和BIC等多种显微镜仪器进行全面研究。FEI XL 30 S-FEG上的OxfordAZtec EDS光谱仪非常适合元素分析。利用其快速、自动化的映射功能,MAPS分析可达到0.1m。它的元素范围从硼（B）到铀（U），能够提供高精度的定量数据。XL30 S-FEG在具有应用特定探测器的大触摸屏界面上具有自动化功能。这些探测器管理光束电流、信号数字化和图像捕获,从而可以处理导致高对比度、低噪声图像的图像参数。此外,许多后处理过滤器可用于增强对比度、模煳、锐化和着色。总体而言,PHILIPS/FEI XL30 S-FEG对于需要高级高性能SEM的用户来说是一个绝佳的选择。它具有广泛的成像功能、增强的成像参数和元素分析功能,是研究和工业应用的绝佳选择。