二手 PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293624757 待售

ID: 293624757
Scanning Electron Microscope (SEM) Detectors: SE BSE OXFORD EDS.
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion是一种扫描电子显微镜(SEM),旨在在一系列应用和研究领域提供出色的成像、分析和样品制备结果。它的SEM柱采用了Thermo Fisher Scientific设计的电子源,延长了工作寿命,提高了性能。FEI XL 30 Sirion还配备了先进的电子光学设备,可提供比传统SEM更详细的高分辨率成像功能。飞利浦XL 30 Sirion配备了能够进行多种多功能样品分析的能力,包括化学、结构和元素分析。其先进的电子光学系统具有从初始状态到纳米结构水平取样的能力。这允许用户一口气查看和测量样本的元素内容及其拓扑。该仪器还可以用来瞄准样品中的某些元素,确定它们之间的联系。XL 30 Sirion包括一个高级功能集,其中包括一个更高的放大倍率范围(最高590 kV),用于增强成像和分析功能,高分辨率成像,具有最大10 μ A的探测电流,并具有可变的电流调整。此设备还提供易于操作的用户友好触摸屏显示屏,以及用于故障排除的机器诊断和错误记录。Sirion还通过自动化的自动化高级样品制备技术与典型的SEM不同。这些技术有助于样品准备,以便更快速、更精确地进行成像和分析,从而减少用户错误的数量。它旨在容纳范围广泛的样本尺寸,这对于不同样本量的研究人员或工业用户来说是理想的选择。PHILIPS/FEI XL 30 Sirion也具有广泛的观看、测量和分析能力。这些包括自动化的刀柄和倾斜调整、自动散光校正、高分辨率成像、三维成像和特征识别、成分映射和分析、元素组成和深度轮廓分析、等值线分辨率和轮廓、多探测器和同步成像以及自动漂移校正。
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