二手 PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293644232 待售

ID: 293644232
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM).
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion是一种高性能扫描电子显微镜(SEM),用于广泛的研究和诊断应用。它配备了先进的功能,以达到快速、准确的效果。FEI XL 30 Sirion具有多种探测能力,包括二次电子、反向散射电子和反射电子。它还具有用于提高分辨率的30千伏的高基极电压,以及用于快速采集数据的高相干电子源。单独的反向散射探测器能够获得表面地形和元素分析。PHILIPS XL 30 Sirion的轴向运动为1200毫米,具有亚微米可重复性,用于在腔内精确放置标本。它还具有高放大倍率的镜头,工作距离为5.5毫米,使各种样本量和形状成为可能。大量的标本持有人可供收藏,以容纳各种标本类型。XL 30 Sirion使用直观的用户界面易于操作,它具有自动化功能,能够快速对齐和接受样品。各种成像工具可用于提供宝贵的数据可视化,包括:四维断层扫描、双光束成像和EDS。PHILIPS/FEI XL 30 Sirion非常适合需要快速操作、准确结果和高级成像功能的应用。其可靠的性能和高效的操作使其成为各种研究和诊断应用的理想选择。
还没有评论