二手 PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #9145946 待售

PHILIPS/FEI XL 30 Sirion是一种扫描电子显微镜（SEM），用于分析表面地形、元素组成和化学结构以及粒径。适用于广泛的样品，包括非导电和自发光材料。显微镜装有大场冷场发射枪，提供高达6.2毫米直径的视野和极高的元素分辨率。光束电流可调至15 pA,以便在最宽的样品类型范围内进行最佳成像。透镜内二次电子检测器提供高灵敏度和优异的信噪比。FEI XL 30 Sirion具有高分辨率的移动级驱动器，允许精确控制样品位置。它被安置在一个温度控制和压力控制的室内。该腔室可容纳一系列标本持有者，允许分析各种材料，包括有机化合物。显微镜还拥有先进的自动化导航系统，允许用户在成像模式之间轻松切换。导航可自动收集各种图像,包括具有分辨率变化的倾斜和放大图像。自动功能可用于检查表面地形、元素组成、化学结构和粒径。飞利浦XL 30 Sirion也可用于3D重建、微成像、深层元素分析。3 D重建模式允许三维形式的图像自动收集。这实时重建了样品表面的详细视图。微成像模式使用高分辨率和放大成像来生成小样本的详细图像。最后，深层元素分析模式允许将样品中的元素识别到原子水平。XL 30 Sirion是一款先进的SEM,具有出色的成像能力。它的大视野和镜头内二次电子探测器允许快速准确的分析，而它的自动化导航系统则允许用户轻松地在成像模式之间切换。此通用系统适用于一系列材料,提供高清成像、3D重建和深层元素分析。