二手 PHILIPS / FEI XL 30 #192152 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于提供样品的最高分辨率成像。FEI XL 30能够获取和分析0.2埃范围内的图像，确保即使是最小的细节也能显露出来。它的透镜内系统允许在与大范围电子束能量结合的情况下进行大范围的样品-表面相互作用。这些电子束通过三种方式与样品相互作用：二次电子、反向散射电子和透射电子。二次电子源自样品表面，包含表面地形信息。当高质量、高速电子与样品和固体物质碰撞并包含晶体学和元素信息时产生反向散射电子。强穿透透射电子不受样品影响，用于探测地下现象。变压SEM技术和变压探测器进一步增强了仪器的探测能力。可变压力SEM可以显着降低甚至消除生物材料、聚合物甚至塑料样品中的样品充电和伪影形成，用于成像和分析，而无需导电涂层。可变压力探测器能够分析从柱的长度产生和偏转到通道电子探测器的能量选择电子。作为一种分析工具，飞利浦XL30能够提供SEM图像，放大到800,000倍，分辨率为0.2埃，元素信息使用能量色散光谱（EDS）映射，线扫描。除了SEM成像之外，PHILIPS/FEI XL30还可以用于加热、冷却和切入样品，允许共焦和3D分析。这些能力使XL30成为在分子水平上分析和表征各种材料的有力工具。XL 30设计为以镜头内系统提供最高解析度的成像性能，以提供与样品的广泛交互，可变压力SEM能力以减少或消除标本充电，以及EDS映射和线扫描等详细的分析能力。这使得FEI XL30任何希望深入了解样品组成和结构的实验室的宝贵工具。