二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293606873 待售

ID: 293606873
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 30是一款高性能扫描电子显微镜(SEM),旨在在广泛的研究和工业应用中提供卓越的成像和分析能力。这种先进的设备是同类设备中最先进的,它提供了优越的图像分辨率和对比度,以及比前代设备更高的探测电流和更快的扫描速率。这个可靠的平台旨在满足各种行业的苛刻要求,包括半导体、医疗设备和冶金应用。该XVL30采用高分辨率野外发射枪,实现了最佳成像性能和高精度分析。它包括一个先进的二次电子探测器,它提供精确的成像和粒径测量。集成的低真空扫描系统允许使用广泛的环境条件,包括高温、湿度,甚至化学气相沉积过程。标本级可以在三个轴(X、Y、Z)中移动,保证对感兴趣区域的精确控制。舞台还可以旋转360度,允许多个视角进行增强成像和分析。该阶段还包括一个可选的样品滑移单元,它允许在阶段和自动更换标本之间快速和方便地转移标本。FEI XL 30还配备了先进的自动化成像套件。这种经过专业开发的成像软件使用户能够以高精度生成高分辨率图像,同时控制各种参数,包括亮度、放大倍率、对比度、景深和扫描间距。PHILIPS XL30还具有直观的用户界面,并且与SEM特定的功能兼容,例如自动能量色散X射线分析(EDX)和电子束光刻(EBL)。尽管XL30设计紧凑,但它是一台功能强大且可靠的SEM机器,可为各种应用提供卓越的成像和分析功能。其先进的成像工具套件以及用户友好的界面使XL 30成为寻求高端成像和分析性能的用户的理想选择。
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