二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293610605 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一款高性能扫描电子显微镜（SEM），旨在提供卓越的分辨率和分析。可用于研究种类繁多的样品，放大倍率范围高达160,000x。FEI XL 30配备了三个电子探测器，使用户可以分析包括组成、地形、元素分布在内的一系列标本数据。集成的数字RGB显微镜相机允许对样本进行全数字成像和观察，软件套件包含了强大的分析功能范围。多功能PHILIPS XL30由五个主要部件组成，共同打造了一个用户友好的分析设备。电子枪由一根加热的灯丝组成，它向样品发送一束细小的电子束，这是由电磁透镜系统指挥的。样品安装在样品支架中，与显微镜组件的其他部分电隔离。然后，电子探测器收集并显示从光束到显示器的数据。XL30可以在低能量或高能量模式下操作,具体取决于所进行的分析类型。在低能模式下，该单元提供对表面结构和组成的高分辨率成像，以及元素分布。在高能模式下，机器可以用来获取表面地形和散装材料特性的信息。SEM工具配备了样品更换器，使样品加载和扫描过程自动化，并配备了现代化的用户界面，使用户能够快速创建和访问分析所需的软件设置。XL 30还具有全面的成像和分析功能,为用户提供全面的功能。集成的ImageJ软件允许在亮场和暗场模式下进行高级成像。此外，FEI XL30拥有一系列强大的分析工具，可用于分析标本数据，如EDS（能量色散X射线光谱）、WDS（波长色散X射线光谱）、SEM断层扫描和自动化数字图像分析。总体而言,PHILIPS XL 30是一种高级和高性能的SEM资产,它为研究人员提供了广泛的成像工具和分析功能。它非常方便用户,并提供了一个完整的解决方桉来可视化和分析各种示例类型。