二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293618038 待售

ID: 293618038
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜(SEM),旨在让研究人员和科学家在微观层面上收集信息和数据。它利用各种功能和功能生成高分辨率图像,并允许对对象曲面进行扩展研究。该单元由多种元件组成,包括电子源、扫描控制器、电磁透镜、样品制备室、数字成像装置和真空系统。电子源产生一束电子束,然后由磁透镜以各种方式操纵,由扫描控制器控制。低压扫描电子显微镜允许对分辨率低至纳米的样品表面进行详细成像。集成微操纵器可用于定位发射电子,用于精确的表面检查。真空系统保持了机器的内部环境,因为真空对于系统的正确运行至关重要。对于标本的制备,显微镜提供集成到标本室的加热和冷却阶段。这样可以灵活地研究样品,包括各种温度和压力。数字成像设备能够捕捉微观和宏观层面的图像。FEI XL 30适用于一系列材料和表面,包括金属、陶瓷、塑料和生物标本。单位体积小,重量轻,用途广泛,操作方便。它允许研究人员和科学家在收集关于表面拓扑的详细信息的同时,准确可靠地分析小样本。
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