二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293619811 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于亚微米级的成像和分析。它具有能量色散X射线光谱（EDS）系统和具有像差校正的野外发射枪。FEI XL 30提供三种成像模式：二次和反向散射电子成像（BSE）或低压成像模式：使用较低的kV来提高高放大倍率下的性能。PHILIPS XL30可以达到500,000x的放大倍数,分辨率为0.750 nm,压力窗口为0.35-420PA,腔室大小为.5 x.6mm。探测器系统由双峰探测器、二次电子探测器和能量色散X射线（EDX）探测器组成。双峰探测器包括一个弯曲的非反射探测器、一个同步脉冲探测器和一个开流点探测器。二次电子探测器测量发射的电子，并配有一个环形狭缝，允许更精细的可调路径分辨率。EDX探测器能够进行元素分析，并配有一个反卡特网格和一个铝制X射线窗。FEI XL30能对真空和真空样品进行分析.采用样品室引入样品，控制环境条件，减少水分和污染物对样品的影响。加热阶段可用于将样品加热至最高3000 °C。PHILIPS/FEI XL 30的用户界面可以编程为控制所有显微镜设置并存储所有设置的默认值。用户可以存储和检索每个映像模式的完整配置文件。使用者也有多个选项可用于控制视角、放大倍率和光束形状。XL30提供了一系列的分析可能性，包括电子显微图、表征、表面地形、元素分析和光谱、故障分析和隧道。其性能通过像差校正（CAC）和kV还原技术得到进一步提高。系统的高稳定性和低噪声地板允许用户进行精确的测量，而它的准确性和一致性给出了结果的可重复性。