二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293636316 待售
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PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜（SEM），用于纳米级成像和分析。用于高分辨率分析材料和生物样品的表面地形。它具有一个自动级,扫描面积为200 x 350 mm,以及一个快速扫描检测器,用于快速成像。扫描速率高达500 Hz,最大分辨率为1 nm/pixel。它还配备了低真空模式，用于需要50 Pa以下的成像样品，FEI XL 30具有许多先进的成像能力。它配有电子束感应电流检测器，测量材料的电性能。它还有一个能量色散X射线分析（EDX）系统，能够对样品表面进行元素分析。此外,它还包括用于样品表征的明场和暗场探测器.除了成像功能外,PHILIPS XL30还提供许多高级分析功能。它配备了可用于测量样品层厚度的反向散射检测器。元素分析和结构分析相结合的能力提供了样品表面的完整图景。它还具有先进的轴上电子全息技术，可以测量材料中的应力和应变。而且，XL 30有一个电荷中和器，可以防止样品充电造成图像失真。这提供了准确的成像和分析，即使样品容易充电。它还具有用于低温下高分辨率成像的集成低温级和用于详细化学分析的光谱检测器。总体而言，PHILIPS/FEI XL30是一种功能强大的扫描电子显微镜，具有一系列先进的成像和分析能力。它非常适合对材料和生物样本进行表征，为研究人员提供无与伦比的洞察力和理解力。
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