二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293643959 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于对广泛的材料和结构进行成像和分析。这种多功能显微镜非常适合低放大倍率和高放大率成像，可用于原位和环境扫描电子显微镜应用。FEI XL 30结合了野外发射枪（FEG）技术，以达到最大性能和稳定性。这种FEG源允许电子束电流下降到2pA，从而能够在低压扫描电子模式下成像。高电流FEG源还允许在更高放大倍率下提高扫描速度和更高的图像分辨率。PHILIPS XL30还具有可容纳450毫米大小的样品的大腔室容量，以及广泛的样品取向。这使得显微镜甚至可以用来分析最具挑战性的样品。此外，XL30还包括一个独特的Autoload III标本加载系统和一系列成像探测器，包括一个闪烁探测器，用于优化高度对比标本的成像，以及一个用于成像非导电材料的反向散射探测器。XL 30也可以在环境SEM（ESEM）模式下操作，对无法用常规SEM成像的样品进行成像和分析。在ESEM模式下运行时，PHILIPS XL 30保持清洁、稳定的真空环境，同时允许样品保持在气态大气下。这允许在液体和细胞培养物中成像细腻的生物样品，如标本。最后,PHILIPS/FEI XL30配备了一系列高性能分析软件,例如TelED,这是一个自动图像分析包,专为图像分析和交互式3 D可视化而设计。该软件能够测量诸如面积、周长、线形和体积等特征,以及集成的能量色散光谱（EDS）功能。最后，FEI XL30是一种扫描电子显微镜，用于对各种材料和结构进行成像和分析。PHILIPS/FEI XL 30是一系列SEM和ESEM应用的理想工具。