二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293757338 待售
网址复制成功!
单击可缩放
ID: 293757338
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution: 3.5 nm @30 kV or >25 nm @1 kV
Voltage: 0.2 – 30 kV
Detectors:
SE
Back-scatter detector
Specimen chamber CCD camera
Stage:
X, Y Travel: 25 mm x 32 mm
Rotation: 360°
Tilt: -15° to 75°
Compucentric rotation
Working distance: 10 mm
Vacuum system:
EDWARDS TMP
EDWARDS Pre-vacuum rotary pump.
PHILIPS/FEI XL 30扫描电子显微镜是一种高度先进的电子元件和材料分析工具。显微镜装有数字成像和二次电子,可用于各种样品尺寸,包括金属和陶瓷材料。显微镜围绕一个长底座和一根垂直柱而建,可以用五个不同的目标来设置,给予更高的分辨率和更高的放大能力。它既配备了内置数码相机,又配备了二次电子探测器,将图像的分辨率提升到远远优于光学显微镜所能达到的水平。这些功能结合了广泛的附件和应用程序,使FEI XL 30成为一系列高级分析任务的理想工具。显微镜是用于半导体表征、检测和故障分析、电路板分析和材料表征的高度先进的工具。它功能强大,提供微观结构、特征和内部构图的高分辨率图像。再者,显微镜配备了广泛的配件,包括一个枪组件、气泵和全真空系统、一个冷冻转移单元,以及一系列的样品持有者。这些附件使PHILIPS XL30成为各种高级分析和测试任务(如数字成像、化学分析、薄膜厚度测量和缺陷表征等)的理想工具。XL30设计时要牢记性能和易操作性。它允许快速、准确的测量和分析,其用户友好的界面使其设置、操作和解释数据变得简单。显微镜也极易维护升级,从而保证了长期可靠的操作。总体而言,XL 30扫描电子显微镜是分析电子元件和材料的绝佳工具。它具有最先进的功能,其先进的成像、分析和附件允许执行一系列高级任务。显微镜还易于设置和使用,使其成为一个理想的工具,为一系列用户。
还没有评论