二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293771293 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于从纳米粒子到大型结构等多种材料中的表面和界面的高分辨率成像和分析。此SEM能够以高吞吐量成像,从而使详细图像的分辨率降至2nm。FEI XL 30采用自动对焦设备和光束对准,可实现最高质量的成像.该SEM利用低加速度电压透镜提高用户安全性，并利用电子束在高真空环境中成像。柱内二次电子检测器产生出色的对比度和图像细节。PHILIPS XL30具有自动化的多级系统,可提供高吞吐量的样品分析和处理功能。通过操纵光束和采样阶段，可以在单个运行中收集各种数据，包括定量元素映射和形态特征。它还具有一个能量色散X射线（EDX）光谱仪，利用反向散射的电子产生一个晶体结构的光谱和一个专用的电子反向散射衍射（EBSD）检测器来测量峰值强度。PHILIPS/FEI XL30能够以多种模式成像,例如明亮场、暗场和差分对比度。该SEM配备了独特的超压装置，用于样品通风，防止样品污染物进入高真空环境。它还包括用于选择和处理图像的高级导航机器。样品放置在真空室中，对样品环境进行操作，以创造所需的成像条件。FEI XL30还包含一个图像捕获工具,用于直接和远程控制SEM。映像捕获资产记录并处理来自SEM的每个映像,从而可以轻松查看、存档和共享结果。总体而言，XL 30是一种功能强大的扫描电子显微镜，用于对材料进行详细的成像和分析，让用户对自己的样品有更深入的了解。此SEM具有自动化的多级模型和先进的导航设备等集成功能,可提供高效且经济高效的分析解决方桉。