二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293799305 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于光样本成像和分析应用。它特别适合于表面地形、样品组成和纸张表面结构的成像和分析。FEI XL 30是变压SEM，最小工作距离30 mm，最大工作距离200 mm。它在3 keV时具有1.2nm的分辨率,带有数字信号处理器（DSP）,每像素的最小电子为8。PHILIPS XL30 SEM基于FEI XL系列平台,并结合了几项重大进展。它具有增强的自动化智能缝合模式,可实现连续、可重复的视场和机动化的景深调整。XL 30还具有先进的用户友好软件,包括双2D成像、3D断层扫描重建、光谱映射以及用于定量元素分析的能量色散X射线分析。飞利浦XL 30搭载了4百万像素分辨率的LMIS1 CCD摄像头，可产生高质量的图像。根据您使用的应用程序,SEM能够生成50 nm到25 mm的图像。示例环境模块提供了一系列可定制的运营商,包括SEM支架和可自动化的示例阶段。其他值得注意的功能包括用户友好的图形用户界面（GUI）,它具有用于多光束成像的四变量设计、自动图像对齐、可变样本倾斜和舞台扫描、可变景深和可变工作距离。可变压力SEM在低压下提供稳定的电子束，允许最小电子束弹跳和更好的非导电样品成像。XL30 SEM是一种功能强大但用户友好的工具,可提供快速可靠的数据。其先进的特性使其适合众多的分析和成像应用，包括样本映射、表面地形、粒度/形状分析、样本组成和结构、深度剖析和元素分析。PHILIPS/FEI XL30 SEM为大多数实验室应用提供了必要的灵活性和性能,为用户提供了进行可靠研究的多功能性和信心。