二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293805730 待售

扫描电子显微镜是成像和分析样品结构和元素组成的首要工具。PHILIPS/FEI XL 30也不例外--一款行业领先的分析扫描电子显微镜（SEM），配备了野外发射枪，在分辨率、性能和分析能力方面提供了明显优势。FEI XL 30具有30 kV的最大加速度电压和300 nm的光斑尺寸,而样品室具有高达70度的偏转角。这允许用户访问难以触及的物料层,从而实现对亚微米特征的更高分辨率分析和自上而下的成像。PHILIPS XL30还包括一把钛基枪，使用增强的液态金属离子源（LMIS）将光谱整合到SEM中。这促进了能量色散光谱学（EDS/EDX），允许对各种元素进行定性、半定量和定量的元素分配。PHILIPS/FEI的高级软件包和用户友好的图形用户界面XL30使其操作简单,系统的灵活性确保最大限度地利用各种分析功能。该系统还提供范围广泛的软件包，从自动粒子分析到光谱学、自动模式识别到自动定向；所有这些都可以适应特定的需求。这确保了XL30能够为样品制备、成像和分析提供最佳解决方桉。此外，FEI XL30包括一系列探测器，包括一个反向散射电子探测器（BED）和一个二次电子探测器（SED）。BED经过优化,可提供与各种样品形态的对比,而SED提供了一系列同时的对比机制,以最大限度地检测样品特征。综上所述,XL 30是一种精密、通用但用户友好的扫描电子显微镜.它提供了一套连接到高级检测系统和多用途样本持有者的复杂软件,使其成为满足最先进分析需求的高性能工具。