二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293809599 待售

PHILIPS/FEI XL 30扫描电子显微镜（SEM）是一种先进的科学仪器，用于获取微观水平上固体物体表面的图像。这种显微镜具有独特的能力，可以获得比其他显微镜更大的深度、大小和细节的图像。FEI XL 30是一种完全集成的透射扫描电子显微镜，是一种高度精密的技术。它是研究微观尺度上的纳米结构和截面特征的特别有力的工具。它结合了二次电子（SE）成像、信号电子（BE）成像、反向散射电子（BSE）成像等各种检测系统。这使研究人员能够测量样本内的3D体系结构,了解内部特征,并区分精细的曲面细节。此外，这种显微镜的"BackScatter技术"允许以增强的3D分辨率对非常大的结构进行成像。飞利浦XL30 SEM配备了独特的"Smartbeam™"系统，其中包括数字图像处理器和控制系统，以提高图像精度和对比度。这是通过电子束电流和电势的自动调节来完成的。该系统还包括一个自动化的舞台程序，允许样品的多个旋转位置，并进一步提高景深。此外，自动收集器限制器提供增强的对比度和降低的充电效果。PHILIPS/FEI XL30 SEM的试样室设计为提供超低真空环境。这样可以防止样品损坏并提高图像质量。再者，显微镜配备了多丝电子源，提供低电子能量和低加速电压。这减少了电子束对样品的损害。飞利浦XL 30 SEM是科学研究和工业的理想工具。它提供高分辨率、卓越的信噪比图像质量和广泛的成像功能。XL30 SEM是纳米材料研究、微加工、故障分析和无损检测等多种应用的理想选择。