二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9096263 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜（SEM），用于多种材料表征和成像应用。FEI XL 30是一款高性能SEM，旨在提供高分辨率成像和材料的详细分析。它配备了一个测角仪，可以对样品取向进行精确的角度调节，以及一个自动转换单元，以便快速和容易地转换真空和/或液氮水平。SEM还配备了DualBeam设备,可同时提供SEM和聚焦离子束（FIB）成像功能。该系统配备了Everhart-Thornley探测器，允许从低电压进行高分辨率成像，导致市场上任何其他SEM的漂移校正最低。该单元还具有自动图像缝合功能,可轻松分析大型样品,以及用于批量样品的高分辨率半定量成像的数字X射线机。飞利浦XL30利用肖特基野战发射枪（FEG）和加坦欧米茄UltraScan接口，提供高稳定性和分辨率。该工具还能够进行局部成像，并配有重型底座，可用于样品安装和装载。其5轴HV采样级具有微电动机，使采样操作更加精确。除样品阶段外，FEI XL30具有可变的斑点大小控制，提供精确的二次电子控制和等温样品温度控制。除了其成像能力外，XL30还能够利用先进的能量色散X射线光谱（EDS）进行化学成像。它还提供一系列高级功能,如快速和全自动导航、低真空样品制备和成像以及薄膜沉积。XL 30具有出色的成像能力,是各种材料分析应用的可靠、精确的选择。