二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9193748 待售

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ID: 9193748
FEG Environmental scanning electron microscope (FEG-ESEM) Tungsten Detectors: CL BSE Plus.
PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于终极成像和分析。它是同类产品中最先进的,旨在提供高分辨率、高质量的成像结果。显微镜的先进设计为各种材料提供了广泛的精确、可重复和可靠的成像结果,即使是受污染的样品也是如此。FEI XL 30配备了5kV X射线源、250毫米柱、9.3cm光学视场和30 kV的最大加速电压。这种组分组合可以对样品进行精确的高分辨率成像,同时最大限度地减少诸如气压、湿度和温度等环境因素的影响。这种先进的显微镜具有可变压力特征,即使有大量样品也能确保最佳成像环境。PHILIPS XL30具有独特的可变压力控制系统(VPCS),可帮助创建最佳成像环境,同时考虑对样品的环境影响。它还有一个特殊的自动聚焦系统,允许它专注于样本中需要更多细节的部分。还提供了独特的均匀照明,以确保每个图像看起来干净、清晰和一致。PHILIPS XL 30具有内置的自动图像捕获系统,可实现自动化和连续成像。使用此功能,您可以立即从相同的样本材料中生成各种图像。它还配备了自动化的样本阶段控制,可以将样本移动到视野上的特定区域。除了FEI XL30的高级成像功能外,它还采用先进的软件进行设计。这使得管理和分析来自各种成像任务的数据变得更加容易。它配备了直观的图形用户界面,使用户可以在软件内轻松处理、管理和访问数据。XL30高效、经济高效、可靠,是高级成像和分析的理想选择。它非常适合那些在短时间内需要高质量图像的用户,以及那些需要最高级别的功能和准确性的用户。
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