二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9203026 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于高分辨率成像和样品分析。它配备了镜头内二次电子（SE）探测器和场发射（FE）源。透镜内检测器使显微镜能够获取具有大景深的地形图像，并在整个视野中产生优越的图像。该场发射源由氙气驱动，提供高亮度、低能量扩散和精确设置。镜内发射和场发射的结合使得FEI XL 30成为研究用途的绝佳工具。显微镜装有一个独特的镜头内检测器，可以在10、30和60 x三种不同的放大倍率下操作。这种高灵敏度检测器具有低噪声电平特性，可实现精确的SEM图像采集。集成的SE信号放大器还允许显微镜生成同时具有灰色轮廓和阴影的样品的SE图像。FEI X-MaxSEM探测器配备了获得专利的X-Tilt Technology，可实现3D成像和分析。结合高灵敏度探测器,PHILIPS XL30非常适合执行3D成像任务。由于SE探测器位于物镜的后焦平面，它还提供了更快的扫描速度，从而减少了死机时间。飞利浦XL 30提供多种分析应用，包括能量色散X射线光谱（EDS）、电子反向散射衍射（EBSD）、阴极发光（CL）和电子能量损失光谱（EELS）。它还提供了先进的图像处理能力，如明场、暗场和极化对比度。用户友好的图形用户界面便于使用,用户可以快速准确地获得所需的图像和数据。XL 30是需要可靠、快速、准确的优质SEM W实验室仪器的研究人员和工程师的理想选择。它提供了卓越的性能、用户友好的操作和广泛的高级分析能力的完美结合。它为几乎任何样品分析或成像应用提供了出色的结果。