二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9243798 待售

FEI XL 30扫描电子显微镜（SEM）是一种高功率、大视野的扫描电子显微镜，设计用于材料的高性能成像和分析。SEM的特点是一个大的试样室，放大幅度在4X和30X之间，工作距离延长。这使得在x-y-z方向上高达256mm的样品可以被精确检查。它还具有内置能量滤波器的列内肖特基场发射枪（FEG）电子源。这允许明亮的高对比度成像，减少色差。FEG电子枪使用寿命长，随时间推移保证性能稳定。此外,PHILIPS/FEI XL 30还配备了数字信号处理器（DSP）,可实现高级成像应用。此SEM的高级详细信息功能允许在标准样品上对高达0.04 nm的特征进行精确成像。自动倾斜和聚焦观测功能提供出色的表面形态成像以及横截面分析。通过结合高端偏光物镜和自动消色差校正,进一步增强了高分辨率成像。FEI XL 30先进的分析测量能力，具有精确的低压光谱，从0.1%到100%的全元素识别，对原子层面的化学成分进行先进的定性和定量分析。它具有从EDX和WDX到EBSD、Backscatter和Brightfield的广泛的可用检测器。整个SEM系统通过直观的图形用户界面进行操作，使实验操作和参数化变得容易。此外,内置自动化还通过部分或完全自动化流程,确保了一致且可重复的操作。飞利浦XL30是一种先进的扫描电子显微镜，非常适合高端成像、分析和研究。它实现了纳米级的精确成像,而高级自动化功能确保了可重复操作和一致的结果。