二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9257598 待售

PHILIPS / FEI XL 30
ID: 9257598
Scanning Electron Microscope (SEM), parts machine.
PHILIPS/FEI XL 30扫描电子显微镜是一种先进的实验室仪器,可以让研究人员以前所未有的精确度和细节研究原子和纳米级的材料结构。显微镜的主要特征包括场发射电子源、高分辨率成像能力、自动化样品处理和阶段定位,以及在多种材料中进行广泛实验的能力。场发射电子源产生聚焦的电子束,可以扫描整个样品表面。这使用户能够以小于1埃(0.1纳米)的分辨率生成样品材料结构的图像。它还允许进行能量色散X射线分析(EDX)和能量过滤成像(EFI)等实验。显微镜的自动化样品处理和舞台定位,使样品的定位高效无误,使用户能够精确搜索特征。除了提供高分辨率成像外,FEI XL 30还可以对材料进行广泛的实验。可以进行电子束感应电流(EBIC)和电子反向散射分析(EBSA)等实验,研究一种材料在原子水平上的电学和光学性质。显微镜还提供了合并外部探测器如离子和电子束溷合探测器的选项,这些探测器可用于实时测量材料的性质。飞利浦XL30扫描电子显微镜为用户在研究生物和无机材料时提供了无与伦比的精确度和细节。它具有高分辨率的成像能力、自动化的样品处理能力以及进行广泛实验的能力,使得它成为任何实验室研究纳米级和原子级材料特性的有力仪器。
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