二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9259822 待售

ID: 9259822
Scanning Electron Microscope (SEM) Upgraded with point electronic Tungsten pumped by diffusion pump Electronics Motorized stage Trackball Control panel SE and BSE detectors EDX Detector Operating system: Windows 10.
PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜(SEM),为纳米级样品的微观成像和分析提供了强大的工具。FEI XL 30具有高分辨率成像能力,分辨率低至0.3纳米,同时检测三种成像方式:二次电子、反向散射电子和X射线光谱。飞利浦XL30是一个大型和多用途的仪器,具有令人印象深刻的一系列特点和能力。它提供半自动化功能,并具有符合人体工程学和用户友好的WORKPLACE环境,使用户能够高效工作。该系统配备了最新的扫描增强预对准(SAP)样品定位技术,可实现快速准确的可重复位置设置。FEI XL30内置的单色仪具有3极构型,产生的电子束均匀照射,没有可见的昏迷像差,确保了最佳成像条件。超分辨率特征允许增强对纳米级精细结构的检测。PHILIPS/FEI XL30提供的SEM-EDS探测器能够同时从多个带电粒子获取信息,从而能够检测元素周期表上的低至镁(9)的元素。它有一个完全集成的采集和分析软件包,允许没有外部软件包的高级数据处理。XL30利用TrueDepth™和TrueContrast™技术来增加景深,提供更好的对比度和分辨率。双丝电子源可以扩展动态范围和提高稳定性,而成像系统的校正功能减少了校正消磁位置或电流/电压设置时的时间和手动工作。总之,PHILIPS XL 30是一款功能强大的SEM,旨在提供前所未有的研究和行业成像能力。它提供了一系列令人印象深刻的特性、技术和能力,并根据科学家和工业工程师的需要量身定制了人体工程学设计。XL 30具有先进的功能和广泛的功能,为表面分析和成像提供了全面的仪器选择。
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