二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9260099 待售
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已售出
ID: 9260099
优质的: 2001
Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM)
Magnification: 100x to 100,000x
PELTIER Cooled specimen stage between -5°C and +60°C
Equipped with:
SE and BSE detectors
High and low (ESEM) vacuum modes
Imaging capabilities:
Secondary Electron (SE) detector for imaging under high-vacuum
Backscattered Electron (BSE) detector for imaging under high-vacuum
Large Field Detector (LFD) used between 0.1 and 1.0 torr to detect BSE and SE signals at low accelerating voltage
Gaseous Secondary Electron Detector (GSED) allows SE detection at up to 20 torr
Wide angle GSED allows SE imaging at up to 10 torr
Standard Secondary Electron (ESD) detector contains a 500 µm aperture for imaging up to 20 torr
Standard / Wide angle X-ray ESD has a working distance of 10 mm
Gaseous BackScattered Electron (GBSD) Detector allows BSE, SE, or BSE+SE imaging up to 10 torr using 500 µm aperture
Stage can accommodate
(7) 0.25" SEM stubs
(3) 1" SEM stubs
(2) Standard-sized petrographic thin sections
2001 vintage.
PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜（SEM），广泛用于工业、制造和科学实验室。它是一种功能强大的仪器，可以放大对象多达30万次或更多次，让用户看到正在检查的样本的复杂细节。它是一个双束系统，意味着有两个电子束，一个用于获取高分辨率图像，另一个用于样品的束纳米穿透。成像系统围绕一个钨场发射源，用于产生高能电子束。然后这些电子在到达样品之前使用磁体和静电透镜的组合聚焦。标本放置在真空室中进行分析，在观察屏幕上以各种放大倍数观看。SEM利用样品中的二次电子形成一个图像，然后可以进行非常详细的分析。FEI XL 30显微镜的成像能力还包括反向散射电子成像、扫描透射电子显微镜（STEM）、阴极发光和电子束感应电流成像等特征。这为研究人员提供了成像和分析一系列样本特征的能力。电子束是高度可控的，光斑大小小至0.2nm，可调束电流和加速电压，自动取样映射。标本级具有三个运动轴，允许精确定位，高放大能力通过显微镜的数字读出得到增强。另外，各种探测器可用于电子分析，包括能量色散X射线（EDX）和波长色散X射线（WDS）。PHILIPS XL30是一种可靠、精密的仪器,能够生成详细的图像并分析各种材料和组件。PHILIPS XL 30的鲁棒性和功能范围使其成为电子显微镜应用的绝佳选择。
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