二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9260357 待售

ID: 9260357
Scanning Electron Microscope (SEM) Tungsten (W).
PHILIPS/FEI XL 30是一款功能强大的扫描电子显微镜(SEM),以紧凑的封装结合了先进技术。它专为广泛的应用而设计,并提供准确、高分辨率的图像,以实现最佳的视觉清晰度。这个SEM非常适合生物、材料和工业科学的研发目的。FEI XL 30是一款桌面SEM,提供多种方便使用的功能,如48厘米(19英寸)的显示器、直观的样本定向软件和基于鼠标的控制系统。最大分辨率1.5 nm,高量子效率高达90%,大视野超过5 mm。SEM非常适合对生物和生物样品进行成像和分析。PHILIPS XL30包括多种成像模式,如反向散射电子成像(BSE)、二次电子成像(SEI)和扫描透射电子显微镜(STEM)。BSE是一种用于检测表面特征如晶界、荧光层和地质纹理的技术,而SEI则用于分析表面形态和材料的元素组成。STEM可用于观察纳米尺度的晶格结构和细胞特征。FEI XL30还提供先进的成像功能,如立体显微镜,用于检测亚细胞物体;电子能量损失光谱法(EELS),提供材料原子和电子结构的多参数分析;能量过滤透射电子显微镜(EFTEM),为生物和生物样品提供高对比度成像。PHILIPS/FEI XL30还提供光谱分析能力,如能量色散光谱(EDS)和电子能量分析仪(EEA),以高精度测量样品的组成和元素分布。这些光谱工具可用于检测和表征低至跟踪水平的元素。XL30利用高真空环境,具有专门的低温阶段,具有冻裂能力,可用于制备和成像低至-150 °C的样品。此外,SEM还提供了自动化的样品更换器,允许对样品进行无人值守的大规模成像和X射线映射。总之,XL 30是一种特征包装的桌面扫描电子显微镜,为研究和开发提供精确、高分辨率的图像。其用户友好的设计以及广泛的成像和光谱能力使其成为科学家和工程师的理想选择。
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