二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9276335 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜（SEM），提供材料研究和生命科学应用所必需的成像和分析能力。SEM使用聚焦电子束生成小结构的图像，允许以0.8纳米的最大分辨率放大材料表面的视图。高水平的电子光校正技术大大增强了显微镜的成像能力，使其成为纳米级成像和分析的理想工具。FEI XL 30的特点是电子源在200-30KV操作,500-300KV可选,允许最大样品高度为5 cm,最小样品高度为5 nm。这种高分辨率和长的工作距离允许观察形状不规则的大型物体，而无需更换镜片。显微镜还具有透镜内二次电子检测器和反向散射电子检测器，以给出不同密度材料之间的高对比度。PHILIPS XL30还配备了多种可进行一系列实验和成像能力的探测器和探测器，其中一些包括：用于元素分析的能量色散光谱（EDS）、用于表面分析的波长色散光谱（WDS）和用于地形成像的反向散射电子探测器（BSD）。高分辨率直接电子探测器也可用于晶体学成像。显微镜还可用于二次电子成像（SEI）、反向散射成像（BSI）和差分干涉对比度成像（DIC）。一套数据采集、成像和分析软件进一步增强了PHILIPS/FEI XL30的可视化能力。此软件使用户能够获取图像、执行定量测量以及轻松访问数据以便发布或与其他SEM进行比较。XL30是纳米技术、材料科学、地质、环境科学、生命科学和法医学等多种研究的理想SEM。它具有很高的灵敏度和分辨率，是一种独特的工具，可以用来检查低放大倍数下看不见的材料和工艺。它也是工业和教育环境中质量控制的绝佳选择。