二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9300327 待售

PHILIPS/FEI XL 30扫描电子显微镜（SEM）是一种功能强大的研究工具,用于分析各种样品的地形、电气和化学特性。FEI XL 30设计用于分析研究、行业和教育环境。显微镜的中心成分是电子柱，它包含了控制光束并产生图像的透镜、偏转器和磁场。飞利浦XL30柱能够产生直径小于一纳米的光斑大小的聚焦光束。电子束由电子源产生，并由一系列存在于柱内的光圈、透镜和偏转器所引导。这使得显微镜可以在0.3 nm到500 nm的范围内聚焦和成像。在真空室内观察样品。为了保护样品和柱组件，必须在腔室保持5 x 10-7 mbar的压力。试样安装在导电试样架上，该试样架放置在腔内。SEM成像系统具有检测二次电子和反向散射电子的能力，以及高分辨率衍射。XL30提供的主要成像模式是高分辨率二次电子模式、二次和反向散射电子模式、低真空模式和螺旋电子光谱。显微镜还具有分析表面地形和元素组成的全部光谱能力。一台CCD阵列为2048 x 2048像素的电荷耦合器件（CCD）相机可以连接到显微镜上，以便获得数字图像。PHILIPS/FEI XL30是一种用途非常广泛的机器，能够产生一系列信号，如差分干涉对比度（DIC）、能量色散X射线（EDX）、X射线微光谱（X-RayMS）、阴极发光（CL）和光元素差分成像（LEDI I）。总之，XL 30扫描电子显微镜是一种强大、功能强大的成像分析工具。PHILIPS XL 30加上其全方位的成像、光谱和分析能力，为广泛的应用提供了强大的研究平台。