二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9302348 待售

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ID: 9302348
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM) No power cable No power supply.
PHILIPS/FEI XL 30扫描电子显微镜(SEM)是一种先进的电子显微镜,用于成像和测量一系列样品的结构和地形。它结合了电子光学和扫描电子显微镜的最新技术,为用户提供了无与伦比的成像性能、准确性和分辨率。该仪器利用了一种高能电子源,其加速电压范围在0.1-30千伏之间,从而实现了广泛的应用。它与高分辨率、现场发射SEM相结合,其放大倍率范围高达70.000x。FEI XL 30还提供多种影像选项。用户可以选择使用镜头内检测设备,该设备具有快速的数字延迟发生器和多功能放大器,也可以选择二次电子或反向散射电子探测器。针对非导电或薄表面样品的成像对二次电子检测器进行了优化。反向散射电子探测器是较厚的非导电样品成像的理想选择。此外,PHILIPS XL30提供了一系列自动化功能,例如全自动样品定位、样品定向和舞台移动,以及全自动自动化低真空泵送系统。这样可以实现更快的成像标准,以及更快、更可重复的产量。还可以通过使用智能图像处理单元(IIPS)实现全自动数据采集。这台机器可以实时分析和捕捉来自SEM的图像,从而获得更高效的结果。总体而言,PHILIPS/FEI XL30是一款功能强大且用途广泛的扫描电子显微镜,可为用户提供前所未有的成像性能、准确性和分辨率。XL 30具有一系列自动化选项和高端成像功能,对于希望捕捉和分析一系列样品的结构、形式和地形的用户来说,它是一个理想的选择。
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