二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9314369 待售

PHILIPS/FEI XL 30是由PhillipsFEI公司设计制造的扫描电子显微镜（SEM）。通用SEM产生高分辨率图像，具有低标本离子损伤，可用于多种标本分析技术。FEI XL 30依靠热电子场发射枪发射电子，配备传统的镜头内det电场和双光圈系统。这种设计使PHILIPS XL30即使在高放大倍数下也能表现出出色的图像清晰度和结构稳定性。PHILIPS XL 30包括一个大的高稳定性真空室和一个磁场无反作用的电子光学柱。这两个特征的结合使得可以进行一系列的标本分析技术。可以利用多探测器、成像技术和自动对焦系统来调整图像质量，获得揭示样品详细表面结构的图像。SEM由于其成像系统而产生样品对比度较高的图像，而其低电子束能量造成样品损伤最小。操作PHILIPS/FEI XL30直观,具有易于使用的控制面板,可调节光束电流和加速电压。光束电流的调整很简单,可以通过一个开关的轻弹来完成.为了用户舒适,XL30设计具有低频振动和噪声抑制功能.FEI XL30专门设计用于非导电样品的高分辨率成像,可用于各种样品的成像、测量和分析。在样品分析方面，XL 30可以对任何类型的样品进行定性、化学或3D分析。当与反向散射检测器一起使用时，检查弱导电样品成为可能，而SEM支架可以用来旋转样品样品。此外,PHILIPS/FEI XL 30与一系列能量色散探测器结合使用,可以在更深层次上提供半定量元素分析。FEI XL 30 SEM用途广泛，适用于一系列样品分析技术，产生对样品损害最小的高分辨率图像。用户友好直观，对希望对各种标本进行详细分析的科学家和研究人员都有帮助。