二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9396739 待售

PHILIPS/FEI XL 30扫描电子显微镜（SEM）是一种用于材料和样品成像分析的场发射SEM。FEI XL 30可以获得3-5纳米分辨率的样品图像，使其成为基础研究、半导体和生命科学应用的理想工具。飞利浦XL30具有一个冷场发射电子源，而不是热电子源，它在更广泛的加速电压范围内增加电子束的相干性、亮度和稳定性。这种较高的源亮度有助于通过检测低强度信号来提高仪器的分辨率。飞利浦XL 30配备了高性能的反向散射检测器系统，能够获取以前无法访问的材料分析数据。该系统可实现常规和像差校正成像。它还包括两个带电二次电子探测器，允许同时成像地形和表面结构。此外,XL 30还包括高级图像处理和分析功能。自动图像优化功能有助于实现最佳图像质量,而自动居中级可以与多个z轴级和操纵器接口,从而提供一系列运动。在样品处理方面，PHILIPS/FEI XL30配备了广泛的样品持有者和阶段。其中包括从高真空样品机械手到低温成像的冷冻支架。此外,FEI XL30利用自动化环境控制提供一系列环境条件。最后,XL30提供了一系列安全功能,包括增强的腔室防辐射罩、机械隔振和自动级防撞系统。总体而言,PHILIPS/FEI XL 30是电子显微镜的理想平台,具有最先进的特性和性能。FEI XL 30结合了先进的成像能力、样本阶段和安全特性,成为一种理想的发现和研究仪器。