二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9398344 待售
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ID: 9398344
优质的: 1998
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten
Camera options: SE, BSE, CCD, IR
EDS SiLi EDAX manual stage: 10 mm
Diffusion pump
ODP Diffusion stack
High vacuum mode conventional
Everhart-Thornley detector
With variable grid bias
Back Scattered Electron Detector (BSED)
Turbo molecular pumping system
End pressure: < 5.10-4 Pa (< 5.10-6 mBar)
EDWARDS Pre-vacuum rotary pump
Penning gauge standard
ThermoFlex recirculating water chiller
Electron source tungsten gun
Voltage: 500 V to 30 kV
Maximum beam current: >1 to µA
Resolution: 3.5 nm at 30 kV
Focus range: 3 mm to 99 mm
Range: 20x to > 500,000x
Manual stages:
X - Y: 50 mm
Z: 25 mm x 25 mm
Tilt range: 75°C to 15°C (Manual)
Rotation: n x 3600
Eucentric tilt at AWD: 10 mm
Single stub holder
Operating system: Microsoft Windows NT
1998 vintage.
PHILIPS/FEI XL 30是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），设计用于精确成像和材料分析。它是为处理具有挑战性的任务而设计的，具有很高的精度和速度。该单元配备了先进的电子枪和在广泛应用中提供卓越性能和分辨率的可调透镜设备。FEI XL 30设计用于在较大的成像区域上精确聚焦和检测电子。高质量的成像能力因系统在从低功率到高功率的多个电子源之间切换的能力而进一步增强。主镜头单元由高分辨率辅助镜头机支撑，用于包含小功能。该单元包括用于测量低至一微米或更小特征的高端探测器。利用高性能的磷光和二次电子探测器，该单元可以提供从亚微米范围到宏观水平的材料的详细图像。此外，一系列探测器和光谱工具可用于SEM-EDX、STEM-EDX和EDS分析。PHILIPS XL30配备了精确的自动化标本级，以确保样品的一致和快速移动。该阶段的设计易于调整，能够长期收集数据。由于舞台是XY驱动和倾斜的，各种标本取向可以轻松实现。还可以通过调整可自动调节的较低源对样品间隙来调整样品的放大倍率。PHILIPS XL 30支持多种操作模式，使用户能够研究各种材料和结构。其中有二次电子成像（SEI）、反向散射电子成像（BEI）、电子反向散射衍射（EBSD）和阴极发光（CL）。加上EDS的附加功能，该单元能够在亚微米级进行成分分析和映射。综上所述,PHILIPS/FEI XL30是一款用途广泛、功能强大的SEM,旨在提供准确的成像、材料分析和成分映射。该单元配备了先进的电子源和探测器，多种分析工具和自动化的标本级，以确保更容易和更有成效的结果。
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