二手 PHILIPS / FEI XL 30 #9408620 待售

ID: 9408620
Scanning Electron Microscope (SEM) Chamber Tungsten source No EDX.
PHILIPS/FEI XL 30是一种扫描电子显微镜(SEM),包括大视野、快速扫描速度和高分辨率成像能力。FEI XL 30设计用于研究和工业应用。其先进的电子光学和新的成像技术使其能够显着提高原始数据质量。显微镜的大视野提供了一个前所未有的细节水平标准SEMs不可用。例如,与手动剖分相比,它可以轻松生成以前从未见过的对象的横截面,成本仅为成本的一小部分。它还能够快速扫描,扫描速度高于同类中的任何其他SEM。飞利浦XL30的成像能力因其尖端的电子光学而得到增强。改进型的维恩滤波器即使在近光束能量下也能保证出色的图像分辨率。这就产生了令人印象深刻的景深和非凡的聚焦深度。真空稳定度也由一种专利的二次电子抑制器(SES)提供,它可以在使用过程中即时调整到新的真空条件。此外,XL 30被设计为易于使用。它的用户界面包括对新用户有用的提示和提示,以及自动图像处理功能。还提供了电场映射、自动边缘检测和表面地形测量,以增强样品分析。总之,PHILIPS/FEI XL30是一款功能强大且用途广泛的SEM,在图像分辨率、速度和视野方面提供无与伦比的性能。其先进的光学、直观的用户界面和自动化功能使其成为研究和工业应用的理想工具。
还没有评论