二手 PHILIPS / FEI XL 30S #293674765 待售

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ID: 293674765
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM) SE Detector BSE Detector UHR SE (TLD) Detector EDAX EDX Detector Main board card non-functional.
PHILIPS/FEI XL 30S是一款多功能扫描电子显微镜(SEM),具有高性能、能力和成本效益的独特组合。其广泛的功能和用户友好的设计使其成为工业、学术界和研究领域的热门选择。这种先进的SEM设备是为优化成像和晶体定向体验而设计的。它配置了4轴光学系统,可提供高达18 kV的光束放大倍率和10 nm的分辨率功能。该装置采用高压自动碳样品装载机,可快速可靠地装载样品材料。FEI XL30S的其他令人印象深刻的特点包括用于样品阶段的自动对准工具、内置的Brucker/Sargent样品更换器以及用于分析低kV样品的低真空样品支架。样品储存器具有较大的工作面积,设计为最大限度地提高吞吐量。飞利浦XL 30 S设计为在低kV环境下运行,在10 kV时高达12 nm的高图像分辨率。这是通过使用高强度、数字图像处理算法和高动态范围对比度来实现的。它还具有高性能、低振动、低刚度结构的电动舞台。先进的FEI XL 30S资产配备了E-Z数据采集软件和E-Z分析软件,用于增强图像分析和报告体验。E-Z数据采集套件包括用于图像处理、微观结构分析、纹理测量和元素组成确定的软件。该模型是为广泛的应用而设计的。它的多功能性和易用性使其适合于各种市场的成像和晶体取向研究,包括工业材料、半导体基板、涂料和冶金。总体而言,XL30S是寻找高级高性能SEM功能的实验室和研究机构的理想选择。高分辨率成像具有快速通量,是快速分析和更详细分析样品的理想选择。
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