二手 PHILIPS / FEI XL 40 #293610598 待售
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ID: 293610598
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten source
Feed through
EBIC
Pump
SED
PC.
PHILIPS/FEI XL 40是一款先进的扫描电子显微镜(SEM),旨在为用户提供强大可靠的扫描能力。这种最先进的显微镜能够提供高达25,000倍的放大倍数,分辨率超过1nm。它还提供了一个大的视野,并为用户提供了在纳米大小的样品中发生的过程的实时观测。FEI XL 40装有野战发射枪,容许近光电流和高电流密度,使得更高的精度和分辨率。此SEM还具有一个主电子检测器(PE/SEC)列,允许用户在数据收集和成像模式之间快速切换,从而提高了效率。此外,PHILIPS XL-40包括一个反向散射检测器,允许用户识别样品中的不同材料,以及一个用于元素分析的能量色散X射线检测器(EDS)。PHILIPS/FEI XL-40还具有高品质的平板显示器和六轴机动化功能,为用户提供自动化的样品扫描。PHILIPS XL 40旨在与像差校正后的EM兼容,允许用户以改进的分辨率和清晰度观察和拍摄样本。该系统还配备了Stage Autofocus,它允许图像在舞台跨多个轴旋转时保持聚焦。XL-40是一种高级SEM,旨在为用户提供最大的扫描能力和分辨率。它具有像差校正、EDX、高分辨率成像和样品扫描等先进功能,是研究、制造和学术应用的理想选择。
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