二手 PHILIPS / FEI XL 40 #293627438 待售

PHILIPS/FEI XL 40是第二代扫描电子显微镜（SEM），专为多种应用而设计。它提供了一系列的高分辨率成像功能，可用于在原子层面上可视化样品。SEM由几个关键组件组成,能够实现高达400,000倍的放大倍数。FEI XL 40的核心是它的电子枪。枪产生一束电子束，向样品加速，到达样品时，束与样品之间的相互作用产生信号。这一过程被称为二次电子发射，产生灰度图像，揭示样品的特征，分辨率高达1纳米。PHILIPS XL-40还包含一个高分辨率的柱内色差和球差校正器。此校正器允许从不同角度同时成像和分析样品，并减少可能导致图像解释不正确的不良像差。飞利浦XL 40搭载AutoTune技术，是FEI独有的。这项技术使SEM能够轻松操作,即使没有经验的技术人员也是如此。这项技术使用户控制的多点优化成为可能,从而能够更快地进行分析并提高成像性能。FEI XL-40包含了一系列其他功能,包括扫描点大小为10nm、10 nm光谱范围为EDS和低kV冷却。这些功能允许SEM从示例中收集最大数量的有用数据。为了帮助用户解释数据，PHILIPS/FEI XL-40配备了一系列分析技术，包括EDS（能量色散光谱）和WDS（波长色散光谱）。利用这些技术，可以对样品进行详细的元素分析。总体而言,XL 40是适用于各种应用的出色SEM。它的自动化能力、高分辨率成像能力和一系列分析技术使它能够生成原子级样品的详细信息。